| 专利名称 | 基于微透镜修饰探针的光学超分辨率动态成像系统 | 申请号 | CN201520083440.8 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204389528U | 公开（授权）日 | 2015.06.10 | 申请（专利权）人 | 中国科学院沈阳自动化研究所 | 发明（设计）人 | 刘连庆;王飞飞;于鹏;李文荣;刘柱;王越超 | 主分类号 | G01Q60/00(2010.01)I | IPC主分类号 | G01Q60/00(2010.01)I;G01Q60/24(2010.01)I;G01N21/84(2006.01)I | 专利有效期 | 基于微透镜修饰探针的光学超分辨率动态成像系统 至基于微透镜修饰探针的光学超分辨率动态成像系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及基于微透镜修饰扫描探针的光学动态成像系统，包括扫描探针显微镜和微透镜；所述扫描探针显微镜的探针上设有微透镜，扫描探针显微镜的纳米定位机构上设有样品台，扫描探针显微镜的光学显微镜位于探针以及样品台上方。本实用新型能够实现光学超分辨率动态观测成像，并且有效解决扫描探针类显微镜在扫描成像初期对纳米物体进行视觉观测定位问题，以及纳米操作时的实时视觉反馈问题，从而提高纳米观测和纳米操作的效率。 |
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