一种抑制低能光电子共振电离产生负离子的装置与方法

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专利名称 一种抑制低能光电子共振电离产生负离子的装置与方法 申请号 CN201510109958.9 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN104701129A 公开(授权)日 2015.06.10 申请(专利权)人 广西电网有限责任公司电力科学研究院;中国科学院大连化学物理研究所 发明(设计)人 朱立平;侯可勇;唐彬;赵无垛;黄云光;李海洋;梁沁沁 主分类号 H01J49/06(2006.01)I IPC主分类号 H01J49/06(2006.01)I;H01J49/16(2006.01)I 专利有效期 一种抑制低能光电子共振电离产生负离子的装置与方法 至一种抑制低能光电子共振电离产生负离子的装置与方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明涉及质谱分析技术领域,具体应用于质谱离子源领域,具体涉及一种抑制低能光电子共振电离产生负离子的装置与方法,所述装置包括从上到下依次设置的紫外光源、推斥电极、毛细管、磁环、聚焦电极、引出电极、金属栅网和金属孔电极;应用紫外光源产生的紫外光通过推斥电极的中心孔照射到金属孔电极的表面,使金属孔电极表面发生光电效应产生光电子,并在电离区快速加速形成高能光电子,避免了低能光电子的形成;本发明有效地提高了光电子和样品分子的碰撞几率,进而提高质谱的灵敏度。

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