| 专利名称 | 一种偏振量子比特的误差补偿测量方法 | 申请号 | CN201510059074.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104655280A | 公开（授权）日 | 2015.05.27 | 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 侯志博;项国勇;李传锋;郭光灿 | 主分类号 | G01J4/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J4/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种偏振量子比特的误差补偿测量方法 至一种偏振量子比特的误差补偿测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种偏振量子比特的误差补偿测量方法，其包括：将所述四分之一波片和半波片的测量角度调整到第一预定角度的组合；输入第一预定数量的待测光子，得到第一次测量结果；将所述四分之一波片和半波片的角度调整到第二预定角度的组合；输入第二预定数量的待测光子，得到第二次测量结果；如果当前误差补偿方式为半波片角度误差补偿、四分之一波片相位误差补偿或半波片相位误差补偿，则误差补偿后的测量结果为第一、第二次测量结果之和；否则继续执行下一步；将所述四分之一波片和半波片的角度依次调整到第三、第四预定角度的组合；输入第三、第四预定数量的待测光子，得到第三、第四次测量结果；误差补偿后的测量结果为四次测量结果之和。 |
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