| 专利名称 | 一种星敏感器光学系统弥散斑圆度的定量分析方法 | 申请号 | CN201510058432.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104655045A | 公开（授权）日 | 2015.05.27 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 李巧玲;严俊;吴璀罡;李晓妮 | 主分类号 | G01B11/24(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/24(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种星敏感器光学系统弥散斑圆度的定量分析方法 至一种星敏感器光学系统弥散斑圆度的定量分析方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种星敏感器光学镜头星点弥散斑圆度的定量分析方法，包括a)获取星敏感器光学镜头工作面上的弥散斑能量分布图；b)根据弥散斑能量分布图计算弥散斑的总能量；c)计算包含总能量的弥散斑质心点位置；d)在弥散斑能量分布图上做闭合的能量等高线，计算弥散斑的圆度误差等步骤。该方法既符合星敏感器图像处理的思路，又能有效反映星敏感器光学系统像差的分布，可用于星敏感器光学系统设计结果的定量评价及性能指标检测，具有原理简单、思路清晰，操作性强的优点。 |
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