| 专利名称 | 基于全反射镜的二维光谱测量装置及测量方法 | 申请号 | CN201510067863.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104614072A | 公开（授权）日 | 2015.05.13 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 刘军;黄政 | 主分类号 | G01J3/45(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/45(2006.01)I;G01N21/25(2006.01)I | 专利有效期 | 基于全反射镜的二维光谱测量装置及测量方法 至基于全反射镜的二维光谱测量装置及测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种基于全反射镜的二维光谱测量装置，包括：分束挡板、方形柱体四面反射镜、第一延时反射镜、第二延时反射镜、第三延时反射镜、第四延时反射镜、空间滤波器、衰减片、第一凹面反射镜、样品、第二凹面反射镜、挡光板和光谱测量装置，本发明无透射元件，故没有透射带来的色散效应和窄光谱限制，同时消除了光束延时调节时所带来的光束移位问题，使得装置更加紧凑，稳定，可以在很宽的光谱范围内进行光谱探测。在同一装置上还可以同时探测样品的泵浦-探测光谱，用于二维光谱的相位校正。 |
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