| 专利名称 | 一种测试超导线电阻率与温度变化关系实验装置 | 申请号 | CN201420621799.1 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204314389U | 公开（授权）日 | 2015.05.06 | 申请（专利权）人 | 中国科学院等离子体物理研究所 | 发明（设计）人 | 邹春龙;宋云涛;吴欢;商敏敏;张之荣;沈光;陆坤 | 主分类号 | G01R27/08(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R27/08(2006.01)I | 专利有效期 | 一种测试超导线电阻率与温度变化关系实验装置 至一种测试超导线电阻率与温度变化关系实验装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种测试超导线电阻率与温度变化关系的实验装置，采用单根超导线及相应比例的超导缆同时进行测试，测试时超导线、超导缆整体缠绕有加热带，超导缆两端传输电流线在临近缆端口处分别单独缠绕加热带，每个加热带分别各自连接有电源，在超导线两端加载线电流源，超导缆两端传输电流线分别与一个电力调制器电连接，在超导缆缆壁上设置多个温度计，每个温度计分别配置有控温仪，且每个温度计与各自配置的控温仪、所述电源连接形成闭合回路，在样品上沿轴向每隔一定距离设置一个采集电压用的电位点。本实用新型可测出超导线在不同温度下所对应的电阻值，为大型超导磁体绝缘的固化提供了切实可行的参考。 |
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