| 专利名称 | 离轴多反空间相机绝对光谱透过率及其均匀性测试装置 | 申请号 | CN201410817001.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104601983A | 公开（授权）日 | 2015.05.06 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 李宪圣;任建伟;万志;刘则询;李葆勇;孙景旭;刘洪兴 | 主分类号 | H04N17/00(2006.01)I | IPC主分类号 | H04N17/00(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 离轴多反空间相机绝对光谱透过率及其均匀性测试装置 至离轴多反空间相机绝对光谱透过率及其均匀性测试装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 离轴多反空间相机绝对光谱透过率及其均匀性测试装置，属于空间光学领域，针对离轴多反空间相机仅测试宽波段的平均透过率，或测试某一单波长位置处的透过率，不能测试在全波段内每个波长位置处的透过率的问题，全波段准直辐射照明源固定在精密移动导轨上，调整全波段准直辐射照明源发出的辐射光与离轴多反空间相机中光学系统的光轴平行，经光学系统后成像到焦平面上；绝对光谱辐射接收器固定在精密移动导轨，调整使得绝对光谱辐射接收器的入光口放置到焦平面位置处；主控计算机向控制器发送控制指令，控制器控制精密导轨带动全波段准直辐射照明源运动，精密导轨带动绝对光谱辐射接收器运动，实时测试沿焦平面长度方向不同位置处的光谱辐射量。 |
1、源头对接，价格透明
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