| 专利名称 | 一种基于金属薄膜SPR色散的图像化测量装置和测量方法 | 申请号 | CN201410853476.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104535545A | 公开（授权）日 | 2015.04.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 雷欣瑞;鲁拥华;王沛 | 主分类号 | G01N21/63(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/63(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于金属薄膜SPR色散的图像化测量装置和测量方法 至一种基于金属薄膜SPR色散的图像化测量装置和测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于金属薄膜SPR(Surface?Plasmon?Resonance)色散的图像化测量装置和测量方法，实现宽光谱范围内金属薄膜复折射率的成像测量。其特征在于：采用连续谱白光光源，拓宽了光谱的测量范围；另一方面，利用透镜聚焦和光栅分光，将角度和波长在空间以正交的方向分开，由CCD探测光强，可以一次性获得所有波长和角度的SPR反射谱，从而一次性获得整条色散曲线，无需角度或波长扫描，极大地提高了信号获取的速度和光谱取样的精度。实现宽谱范围内的快速、非扫描图像化测量。 |
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