| 专利名称 | 超长焦距空间相机焦距的精密测量方法 | 申请号 | CN201410788325.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104515671A | 公开（授权）日 | 2015.04.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 马洪涛;金辉;韩冰;李旭;周兴义 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 超长焦距空间相机焦距的精密测量方法 至超长焦距空间相机焦距的精密测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 超长焦距空间相机焦距的精密测量方法，涉及光学测量方法技术领域，解决现有测量长焦距相机焦距时测量精度低、配套设备需求经费高等问题，本发明采用球径仪测量干涉仪球面标准镜的曲率半径，采用镜面定位仪测量标准镜的透镜厚度，并根据获得的曲率半径及透镜厚度计算干涉仪球面标准镜的焦距；采用镜面定位仪测量基准尺的长度，并将测量长度后基准尺放置在二维调整台上；将被测相机、平面镜及基准尺放置在干涉仪的前方并进行粗调整及平面镜精细调整；使被测相机的干涉图在干涉仪的探测器上成像；采用四象限分析法计算探测器上的成像，获得基准尺的像的长度；根据干标准镜的焦距，基准尺长度以及基准尺像的长度，获得被测相机的焦距。 |
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