| 专利名称 | 测量大直径圆环面平面度的装置及方法 | 申请号 | CN201410788237.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104515481A | 公开（授权）日 | 2015.04.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 陈宝刚;张景旭;吴小霞;徐伟;张岩 | 主分类号 | G01B11/30(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/30(2006.01)I | 专利有效期 | 测量大直径圆环面平面度的装置及方法 至测量大直径圆环面平面度的装置及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 测量大直径圆环面平面度的装置及方法，涉及机械加工装调检测领域的测量技术，解决现有圆环平面度的测量装置存在结构复杂和使用受限的问题，现在测量方法由于存在测量精度低而导致测量误差大等问题，包括精密转台、内调焦光管、光纤点光源、转台调平机构、测杆和CCD探测器。本方法首先利用内调焦光管把光纤点光源成像在被测圆环面上方，精密转台带动点光源的像点旋转在空间画圆，然后以此圆所在的平面为基准，用CCD探测器接收点光源像点，根据脱靶量测出被测点与基准平面的距离，最后通过数据处理计算即可得到被测圆环面的平面度。本发明测量精度高，数据处理简单，操作方便，效率高，成本低；本发明适用于大尺寸圆环件平面度的检测。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障