| 专利名称 | 绝对位置测量方法 | 申请号 | CN201410788240.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104515534A | 公开（授权）日 | 2015.04.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 乔栋;孙强;吴宏圣;曾琪峰;蔺春波 | 主分类号 | G01D5/34(2006.01)I | IPC主分类号 | G01D5/34(2006.01)I | 专利有效期 | 绝对位置测量方法 至绝对位置测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 绝对位置测量方法，涉及一种绝对位置测量方法，解决现有方法只适用于曼彻斯特编码方式，且需要扫描附加的编码、附加专门用于检错的编码，进而导致编码的利用率低等问题，本发明通过对同一编码单元在多个光敏感单元上所反映出的光学特性进行表决，并读取相邻的多个绝对位置编码，可以给后续设备提供可靠的绝对位置信息以及当前位置的污染状况。如果当前位置的污染状况超出可纠正范围时，位置测量装置停止给后续设备提供绝对位置信息并给出警报。通过选定某个光敏感单元作为测量点，可以提高测量分辨率。 |
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