| 专利名称 | 白光干涉仪干涉条纹展宽方法 | 申请号 | CN201410788280.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104515482A | 公开（授权）日 | 2015.04.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 王绍治;刘健;隋永新;杨怀江 | 主分类号 | G01B11/30(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/30(2006.01)I | 专利有效期 | 白光干涉仪干涉条纹展宽方法 至白光干涉仪干涉条纹展宽方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 白光干涉仪干涉条纹展宽方法，涉及光学检测领域中的一种干涉条纹展宽方法。本发明的目的在于提供一种白光干涉仪的自动条纹展宽方法，在提高测量效率的同时，降低操作难度与工作量。该方法实施步骤为：首先调节白光干涉仪至条纹出现在屏幕中心处；然后计算屏幕四个子区域的条纹强度；计算两个条纹较强子区域的条纹方向；通过两区域中心沿各自条纹方向作虚拟直线并计算交点屏幕坐标；将该屏幕坐标转换为实际位置偏移，并根据元件曲率半径控制镜头摆动角度；重复以上过程直至条纹满足测量要求。本方法采用图像处理技术，不需外加传感器，计算简单，调节周期短，对于一般情况条纹，经过3～5次调节即可满足测量要求。 |
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