| 专利名称 | X射线光栅相位衬度成像中摩尔条纹的识别方法及装置 | 申请号 | CN201410840694.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104504710A | 公开（授权）日 | 2015.04.08 | 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 吴自玉;韩华杰;王圣浩;张灿;杨萌;王志立;高昆 | 主分类号 | G06T7/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G06T7/00(2006.01)I;G06T5/00(2006.01)I | 专利有效期 | X射线光栅相位衬度成像中摩尔条纹的识别方法及装置 至X射线光栅相位衬度成像中摩尔条纹的识别方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种X射线光栅相位衬度成像中的摩尔条纹的识别方法及装置，所述方法包括：步骤1：对待识别的摩尔条纹图像进行光照不均匀修正；步骤2：对经过光照不均匀修正后的摩尔条纹图像进行滤波；步骤3：对滤波后的摩尔条纹图像进行二值化，获得二值化图像；步骤4：对所述二值化图像进行细化，以提取二值化图像中摩尔条纹的中心线；步骤5：根据所提取的摩尔条纹的中心线识别摩尔条纹的精确位置。本发明提供的方法实现了摩尔条纹角度和方向计算的自动化，避免的仪器使用者的主观因素导致的误差，并且仪器调节速度大大提高，精确度也得到了很好的保证。 |
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