| 专利名称 | 一种光学与毫米波雷达共孔径复合探测系统 | 申请号 | CN201410796336.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104502909A | 公开（授权）日 | 2015.04.08 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 余毅;乔彦峰;蔡盛;何锋赟;刘韬 | 主分类号 | G01S13/86(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S13/86(2006.01)I | 专利有效期 | 一种光学与毫米波雷达共孔径复合探测系统 至一种光学与毫米波雷达共孔径复合探测系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种光学与毫米波雷达共孔径复合探测系统，技术主要应用于靶场测量、空间目标探测及多模共孔径复合制导，属于光学与雷达探测技术的交叉领域。它主要由大口径主镜天线、次镜反射面、高效分频元件、毫米波雷达收发系统及光电接收系统组成。所述大口径主镜天线及次镜反射面既能够高增益地反射毫米波雷达信号，也能高效反射光学信号；所述高效分频元件可以高效地反光学透毫米波信号或反毫米波信号透光学信号。本发明基于大口径光电经纬仪，结合毫米波雷达技术与光学薄膜技术，实现光学与毫米波雷达共孔径复合探测的功能。 |
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