| 专利名称 | 一种基于空时过采样扫描的弱小点目标精确定位方法及系统 | 申请号 | CN201410855945.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104502992A | 公开（授权）日 | 2015.04.08 | 申请（专利权）人 | 中国人民解放军空军预警学院;中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 王成良;饶鹏;欧阳琰;许春;闫世强;苏海军;朱勇;王志斌;王树文;刘辉;石斌斌;李世飞;姜海林;易丽君 | 主分类号 | G01V8/10(2006.01)I | IPC主分类号 | G01V8/10(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于空时过采样扫描的弱小点目标精确定位方法及系统 至一种基于空时过采样扫描的弱小点目标精确定位方法及系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种基于空时过采样扫描的弱小点目标精确定位方法及系统，方法包括步骤：构造M个线列探测器；扫描得到M组图像，对扫描得到的图像进行非均匀性校正，再按照时间和空间采样周期将M组图像镶嵌为图像F′并去除边缘；去除图像F中的随机噪声；对去噪后的图像进行阈值滤波，得到二值化图像F1；使用连通区域法寻找图像F1中的弱小点目标区域；找出图像F中对应的弱小点目标区域，采用一阶矩的质心提取方法确定弱小点目标质心位置，以实现图像F中对应弱小点目标的精确定位。实施本发明克服了现有过采样技术存在采样数据处理时间长，信息处理流程复杂的问题，并且可在不改变现有光学系统光学口径、焦距的情况下获得高精度的目标点定位。 |
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