| 专利名称 | 一种非球面光纤细丝测量方法 | 申请号 | CN201510005702.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104501722A | 公开（授权）日 | 2015.04.08 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 吴永前;黄传科;范斌 | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/00(2006.01)I;G01B11/255(2006.01)I | 专利有效期 | 一种非球面光纤细丝测量方法 至一种非球面光纤细丝测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种非球面光纤细丝测量方法，该方法通过调整装置使得光纤端面发出的光照射被测非球面镜反射回来的部分光线被与光纤在同一个面上的细丝挡住，其余光线被镀有反射膜的直角梯形棱镜发射进入CCD，计算机里面就呈现出被测镜面上有一圈暗环。暗环的法线与光轴的交点就是细丝的位置。纵向移动测量装置，采集各幅镜面各个位置的阴影图，进行相关计算。本发明利用光纤直径小而作为光源，相比传统的刀口仪缩小了光源的尺寸大小。同时光纤基本不发热，检测时避免了光在传播过程中由于空气受热不均匀而发生折射，提高了检测的精确性。白光光源通过汇聚透镜耦合进入光纤，使用时光的衍射效应大大降低，阴影的边界更明显，有效发现镜面的环带误差。 |
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