| 专利名称 | 用于行星表面就位精细光谱分析系统 | 申请号 | CN201420462938.0 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204228269U | 公开（授权）日 | 2015.03.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 王建宇;何志平;王斌永;李春来;吕刚;袁立银;陈凯 | 主分类号 | G01J3/36(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/36(2006.01)I | 专利有效期 | 用于行星表面就位精细光谱分析系统 至用于行星表面就位精细光谱分析系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本专利公开了一种用于行星表面就位精细光谱分析系统，它包括定标防尘模块、光谱分析模块、数据采集与控制模块、安装基座。该仪器利用多射频复合声光驱动技术，结合双通道分立探测实现目标图像及光谱数据的获取，用于精细光谱分析；采用轻型转动机构驱动集成化的定标防尘板、配以指向镜，实现行星表面恶劣环境下的探测、定标、防尘及保温功能；采用复杂光机构型设计，实现仪器的紧凑型及轻小型。利用该专利实施的仪器具有集成度高，轻小型及多功能的特点，具备无人程控下的自主精细光谱分析功能的同时能适应行星表面恶劣环境，满足深空行星表面探测对新型仪器的需求。 |
1、源头对接，价格透明
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