| 专利名称 | 一种图像传感器特性参数测量分析系统 | 申请号 | CN201410838194.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104469356A | 公开（授权）日 | 2015.03.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明（设计）人 | 秦琦;吴南健;冯鹏;刘力源 | 主分类号 | H04N17/00(2006.01)I | IPC主分类号 | H04N17/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种图像传感器特性参数测量分析系统 至一种图像传感器特性参数测量分析系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种图像传感器特性参数测量分析系统，其集成了可配置光源、探测器室、控制终端。其中可配置光源包括光源控制器、激光光斑光源、脉冲激光光源、数字白光光源，构成本测量分析系统的信号光源。探测器室包括核心控制板、光路模块、定位执行机构和整体暗箱，用于样品定位、光路聚焦及任务设备控制。控制终端包括高可靠嵌入式多核处理器、高速数据采集与存储模块、物理参数测试分析模块、ADC阵列测试模块、精密程控电源，为本系统提供电源，进行数据采集、参数计算和人机交互。本发明可一体化实现针对图像传感器的：器件物理参数测量、电路特性参数测量、图像数据高速捕捉和回放。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障