| 专利名称 | 基于压缩相位恢复的稀疏微波成像方法 | 申请号 | CN201410743546.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104459695A | 公开（授权）日 | 2015.03.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 张冰尘;全相印;张拓;蒋成龙;吴一戎 | 主分类号 | G01S13/90(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S13/90(2006.01)I | 专利有效期 | 基于压缩相位恢复的稀疏微波成像方法 至基于压缩相位恢复的稀疏微波成像方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种基于压缩相位恢复的稀疏微波成像方法。该稀疏微波成像方法包括：步骤A：根据观测目标场景的原始雷达回波数据，构建雷达回波强度信号生成模型；步骤B：利用雷达回波强度信号生成模型，确定重建目标场景后向散射系数的优化目标；以及步骤C：利用压缩相位恢复算法，对重建目标场景后向散射系数的优化目标进行求解，估计目标场景的后向散射系数。本发明利用雷达回波强度信号，重建目标场景的后向散射系数，实现微波成像，从而避免了因雷达回波数据相位误差无法精确补偿所导致的对成像结果的负面影响。 |
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