| 专利名称 | 超导全张量磁梯度测控装置的同步精度的平行标定方法 | 申请号 | CN201410742699.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104457793A | 公开（授权）日 | 2015.03.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明（设计）人 | 伍俊;荣亮亮;邱隆清;孔祥燕;谢晓明 | 主分类号 | G01C25/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C25/00(2006.01)I | 专利有效期 | 超导全张量磁梯度测控装置的同步精度的平行标定方法 至超导全张量磁梯度测控装置的同步精度的平行标定方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种超导全张量磁梯度测控装置的同步精度的平行标定方法，其特征在于首先采用数字锁相环对GPS组合惯导秒脉冲信号PPS倍频产生重采样的时钟，然后利用计数器获得ADC采样时钟与重采样时钟的相位关系从而完成对原始信号的重采样；随后在接收到PPS信号时由串口读取此时GPS的精确授时时间，最后再与GPS组合惯导中存储的带有时间戳的位置和姿态信息融合后来实现同步。本发明提供十微秒级的同步测量精度，所述方法具有实现简单可操作性强，对成功研制超导全张量磁梯度测控装置意义重大。 |
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