| 专利名称 | 用于可见-紫外检测显微镜的成像光学系统 | 申请号 | CN201410620550.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104459966A | 公开（授权）日 | 2015.03.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 蔡燕民;王向朝;张友宝;步扬;唐锋;黄惠杰 | 主分类号 | G02B21/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G02B21/02(2006.01)I;G02B13/00(2006.01)I;G02B1/00(2006.01)I | 专利有效期 | 用于可见-紫外检测显微镜的成像光学系统 至用于可见-紫外检测显微镜的成像光学系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种用于可见-紫外检测显微镜的成像光学系统，沿其光轴方向依次包括第一透镜、第二透镜、第三透镜、…、直到第十八透镜，其中第一透镜至第四透镜组成第一镜组G1，其组合焦距为200mm，第五透镜至第十八透镜组成第二镜组G2，其组合焦距为4mm，物面到像面的放大倍率为1/50倍，物方视场半径为10mm，实现像方数值孔径为0.85。本发明全部采用高透过率的i线玻璃，成像质量接近完善成像，并且结构紧凑，完全可满足用于可见-紫外检测显微镜的技术要求。 |
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