| 专利名称 | 基于类金刚石薄膜的纳米孔测量系统及其制备方法 | 申请号 | CN201410707203.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104458813A | 公开（授权）日 | 2015.03.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院重庆绿色智能技术研究院 | 发明（设计）人 | 王德强;冯艳晓;赵清;史浩飞;杜春雷 | 主分类号 | G01N27/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N27/00(2006.01)I | 专利有效期 | 基于类金刚石薄膜的纳米孔测量系统及其制备方法 至基于类金刚石薄膜的纳米孔测量系统及其制备方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了基于类金刚石薄膜的纳米孔测量系统，包括纳米孔系统、盐溶液腔室和电流监测系统，所述纳米孔系统包括衬底和复合在衬底上表面的类金刚石薄膜I，所述衬底和类金刚石薄膜I表面包覆有绝缘保护层，该衬底刻蚀有锥形孔洞，该类金刚石薄膜I与锥形孔洞顶部相对处刻蚀有纳米孔；所述锥形孔洞与纳米孔位于盐溶液腔室内部且连通上部腔室和下部腔室；所述电流监测系统包括通过导线连接的电源、电流计、电极I、II，所述电极I、II分别位于上部腔室和下部腔室内；本发明还公开了制备该纳米孔测量系统的方法。本发明的纳米孔测量系统以类金刚石薄膜作为纳米孔基材，有效解决了普通纳米孔的孔径不稳定，随着时间的变化而逐渐变大的问题。 |
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