| 专利名称 | 一种变温样品台及热电性能测量方法 | 申请号 | CN201310389032.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104422711A | 公开（授权）日 | 2015.03.18 | 申请（专利权）人 | 国家纳米科学中心 | 发明（设计）人 | 王汉夫;褚卫国 | 主分类号 | G01N25/20(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N25/20(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I;G01R27/08(2006.01)I | 专利有效期 | 一种变温样品台及热电性能测量方法 至一种变温样品台及热电性能测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种变温样品台，属于热电材料的测量领域，所述变温样品台包括样品座、样品杆、以及设于所述样品座与所述样品杆之间的连接件，所述样品座包括主加热器、两个温差加热器、基座、绝缘垫板、样品垫块以及样品压块，所述主加热器压块用于固定所述主加热器，所述温差加热器压块用于固定所述温差加热器，所述样品垫块通过第一紧固件固定于所述基座上，所述绝缘垫板位于所述样品垫块与所述基座之间，所述样品压块通过位于所述样品压块两端的第二紧固件与所述样品垫块固定连接。本发明适用于稳态模式和准稳态模式两种模式下热电势的检测，且能同时测量电阻率。 |
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