| 专利名称 | 超窄带滤光片的透射率光谱测量装置 | 申请号 | CN201420461065.1 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204165650U | 公开（授权）日 | 2015.02.18 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 马小凤;刘定权;王曙光;蔡清元;陈刚;张莉;朱佳琳 | 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | 专利有效期 | 超窄带滤光片的透射率光谱测量装置 至超窄带滤光片的透射率光谱测量装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种超窄带滤光片的透射率光谱测量装置，该装置包括光源系统、会聚镜、准直镜、样品架、光信号接收系统和数据分析与处理系统等。其特点是光源采用具有稳定的高输出功率、发射波长连续且发射光谱带宽大于30nm的LED光源；采用具有高波长准确度与高光谱分辨率的激光波长计作为光信号接收器，利用计算机进行数据分析处理，最终获得超窄带滤光片的透射率光谱曲线。这种装置结构简单实用，造价低，其测量方法简便可靠快捷，与传统分光光度计相比其波长精度和光谱分辨率均更高，能够更为准确地反映超窄带滤光片的实际光谱性能，特别适用于带宽在0.1～1nm范围内的超窄带滤光片的光谱带宽测量与中心波长定位。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障