| 专利名称 | 测量同轴型脉冲管制冷机制冷性能的标准杜瓦 | 申请号 | CN201420597215.1 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204165765U | 公开（授权）日 | 2015.02.18 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 党海政 | 主分类号 | G01M99/00(2011.01)I | IPC主分类号 | G01M99/00(2011.01)I | 专利有效期 | 测量同轴型脉冲管制冷机制冷性能的标准杜瓦 至测量同轴型脉冲管制冷机制冷性能的标准杜瓦 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本专利公开了一种测量同轴型脉冲管制冷机制冷性能的标准杜瓦，该标准杜瓦由真空罩、测量底座、波纹管、接线座、抽气接口、调节圈、安装座、柱状温度计、加热片组成，它将真空罩、加热片、温度计的功能集中于一体，可以方便快捷地对一定尺寸范围内的同轴型脉冲管制冷机制冷性能进行测量评价，最大限度地减少不同同轴型脉冲管制冷机间制冷性能对比的干扰因素，使不同制冷机之间的制冷性能具有更为科学可比性，同时节约测量制冷机制冷性能的时间和资源，并大幅度提高测量的效率。 |
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