| 专利名称 | 一种同步辐射高压单晶衍射方法 | 申请号 | CN201410079911.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104374788A | 公开（授权）日 | 2015.02.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所;北京工业大学 | 发明（设计）人 | 李晓东;李晖;刘景;李延春 | 主分类号 | G01N23/207(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/207(2006.01)I | 专利有效期 | 一种同步辐射高压单晶衍射方法 至一种同步辐射高压单晶衍射方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种同步辐射高压单晶衍射方法，其包括入射光限光及强度监测、样品定位与旋转、二维探测器数据采集、探测数据指标化和衍射强度校正等步骤，该实验方法可以得到单晶样品在压力条件下的准确强度信息，为后续结构测定及精修、高压相变研究、无公度结构测定、电荷密度测量等研究工作创造良好条件。 |
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