| 专利名称 | 一种透镜折射率干涉测量方法 | 申请号 | CN201410653561.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104374548A | 公开（授权）日 | 2015.02.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 毛洁;侯溪;伍凡 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种透镜折射率干涉测量方法 至一种透镜折射率干涉测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种透镜折射率干涉测量方法，该方法首先通过移动被测透镜，使干涉仪出射的平行光束经过标准镜头后会聚在被测透镜表面。然后采用双路测距干涉仪进行距离测量及面形误差补偿，获取被测透镜前后表面顶点处两次定位的位置坐标，利用光线追迹公式计算透镜折射率。该方法使用的测量装置包括干涉仪，标准物镜，激光测距仪，五维调整架及移动导轨。其中标准物镜和被测透镜依次放在干涉仪光源出射光线方向。被测透镜固定在五维调整架上，可在导轨上移动。本发明利用干涉法对透镜表面定位及位置补偿，实现了透镜折射率的非接触测量。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障