| 专利名称 | 一维材料的局部定位方法 | 申请号 | CN201410682661.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104359941A | 公开（授权）日 | 2015.02.18 | 申请（专利权）人 | 中国科学院物理研究所 | 发明（设计）人 | 张霄;周维亚;解思深 | 主分类号 | G01N25/20(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N25/20(2006.01)I;G01N1/36(2006.01)I | 专利有效期 | 一维材料的局部定位方法 至一维材料的局部定位方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种一维材料的局部定位方法。该方法通过先在一维材料表面形成由包裹材料形成的包裹层，使其在观测条件下可见；之后去除一维材料上待定位的局部包裹层，从而在一维材料上形成包裹段和对应于局部的裸露段，该包裹段的一维材料在观测条件下可见，裸露段的一维材料暴露于周围环境中在观测条件下不可见，以此可见的包裹段作为定位标记对不可见的裸露段进行定位，方便了后续如测定一维材料的热导率等操作。与现有的技术相比较，本发明提供了一种可逆地实现一维材料在光学显微镜下可见的方法，并利用该方法对一维材料进行操作，使得一维材料的实际应用更加广泛。该方法简单实用、效果可逆，且恢复原貌后不会影响材料本身的物理性能。 |
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