| 专利名称 | 一种基于光学俘获的颗粒粒径检测方法 | 申请号 | CN201410685965.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104374676A | 公开（授权）日 | 2015.02.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 周金华;李迪;李银妹;钟敏成;王自强 | 主分类号 | G01N15/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N15/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于光学俘获的颗粒粒径检测方法 至一种基于光学俘获的颗粒粒径检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种基于光学俘获的颗粒粒径检测方法，该方法分析被光阱俘获颗粒位移的功率谱，该信号包括受限布朗运动对应的洛仑兹分布和受迫运动的尖峰。根据尖峰相对洛仑兹分布围绕的面积与峰的高度，反演该光阱中微粒被位置探测器探测时的电压比例系数，根据标准尺寸微粒粒径，测量粘滞系数与温度的比值。根据粘滞系数与温度的关系，获得光阱中的温度。采集待测微粒在光阱中的受迫运动信号，然后使用功率谱校准探测器对该微粒的电压比例系数。由热噪声的功率谱获得扩散系数，根据标准微粒测量的温度和粘滞系数以及Stokes-Einstein关系即可确定颗粒半径。该方法可以检测出实验环境中单个颗粒的粒径，即可原位高精度检测粒径。 |
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