| 专利名称 | 基于显微成像的图像灰度测量颗粒粒径的方法 | 申请号 | CN201410685961.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104390895A | 公开（授权）日 | 2015.03.04 | 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 周金华;李迪;李银妹;钟敏成;王自强 | 主分类号 | G01N15/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N15/02(2006.01)I | 专利有效期 | 基于显微成像的图像灰度测量颗粒粒径的方法 至基于显微成像的图像灰度测量颗粒粒径的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种基于显微成像的图像灰度测量颗粒粒径的方法，该方法在显微镜上拍摄离散的标准尺寸颗粒图像，然后沿x或者y方向测量颗粒边缘的灰度分布曲线与背景灰度水平线的交点的间距，逐行/逐列扫描间距，最大值为该方向上测量的图像直径。沿z方向扫描不同离焦区域，测量颗粒离焦成像时的图像直径，最小的图像直径为颗粒在显微图像上的等效直径。采用测量等效直径的方法，测量一系列尺寸标准颗粒的等效直径，建立颗粒等效直径和真实直径的特征曲线，该曲线表征了拍摄显微图片仪器的测量颗粒的特性。对尺寸落在特征曲线范围内的待测颗粒，直接测量其等效直径，根据特征曲线即可精确地得到未知颗粒的真实直径。 |
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