| 专利名称 | 图像型电子自旋分析器 | 申请号 | CN201310313572.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104345331A | 公开（授权）日 | 2015.02.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明（设计）人 | 乔山;万维实;季福昊 | 主分类号 | G01T1/32(2006.01)I | IPC主分类号 | G01T1/32(2006.01)I | 专利有效期 | 图像型电子自旋分析器 至图像型电子自旋分析器 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种图像型电子自旋分析器。所述图像型电子自旋分析器至少包括：散射靶、二维图像型电子探测器、以及电子弯转单元；其中，电子弯转单元用于使入射电子聚焦后弯转第一角度后、以最优入射角聚焦入射至散射靶以及使散射靶散射出的出射电子聚焦后弯转第二角度后、以最优出射角聚焦出射至二维图像型电子探测器，且入射电子的运动轨道与出射电子的运动轨道分离，第一角度及第二角度中至少一者不为00；从而可以分别实现电子自旋分析器初始平面处电子图像到靶平面的第一次二维成像及从靶平面到二维图像型电子探测器平面的第二次二维成像，进而实现电子自旋的多通道测量；而且电子弯转单元的引进可以增加自旋分析器各个组件的几何配置的自由度。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障