| 专利名称 | 一种应用X荧光熔融法测定石膏中主次元素含量的方法 | 申请号 | CN201410567386.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104330428A | 公开（授权）日 | 2015.02.04 | 申请（专利权）人 | 中国科学院地质与地球物理研究所 | 发明（设计）人 | 刘艳红;薛丁帅;王红月 | 主分类号 | G01N23/223(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/223(2006.01)I | 专利有效期 | 一种应用X荧光熔融法测定石膏中主次元素含量的方法 至一种应用X荧光熔融法测定石膏中主次元素含量的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种应用X荧光熔融法测定石膏中主次元素含量的方法，其按照先后顺序包括以下步骤：将标准样品烘干至恒重，取出冷却至室温；称取标准样品灼烧至恒重，取出冷却至室温；称取助熔剂与标准样品混合均匀；加入脱模剂置于熔融炉上熔解，制得标准样品的熔融玻璃片；应用X荧光光谱仪分析标准样品的熔融玻璃片，测定各种元素的谱线强度，建立各种元素谱线强度与该元素已知含量之间的回归方程；选取待测样品，重复上述步骤，利用满足要求的X荧光熔融法测定该待测样品中主次元素的含量。该发明的测定方法操作简单、分析速度快、结果精确，可同时测定石膏中各种元素的含量，建立了一种适用于石膏中主次元素含量测定和分析的普遍适用方法。 |
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