| 专利名称 | 一种采用X射线荧光光谱检测重金属的薄膜标准品的制备装置及其应用 | 申请号 | CN201410616682.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104307376A | 公开（授权）日 | 2015.01.28 | 申请（专利权）人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明（设计）人 | 甘婷婷;张玉钧;殷高方;赵南京;刘建国;刘文清 | 主分类号 | B01D63/08(2006.01)I | IPC主分类号 | B01D63/08(2006.01)I;G01N1/40(2006.01)I | 专利有效期 | 一种采用X射线荧光光谱检测重金属的薄膜标准品的制备装置及其应用 至一种采用X射线荧光光谱检测重金属的薄膜标准品的制备装置及其应用 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种采用X射线荧光光谱检测重金属的薄膜标准品的制备装置，该装置由漏杯、膜片夹持器和接收瓶组成；所述的膜片夹持器由漏斗、网片和弹性压套组成；所述的漏斗具有一个圆柱形的体部，该体部的上部为向内径向收缩并向上延伸的圆柱形的口部，下部为圆锥形的漏口，该漏口上部的外径小于所述体部的外径，在二者的结合部形成一环形的支呈台阶；所述漏斗体部的外表面上设有外螺纹；所述的弹性压套为圆盘状，其下表面为盲孔，上表面设有与所述漏斗口部内径相等并与所述漏斗连通的过液孔；所述的网片为布满网孔的圆片，且位于弹性压套下表面所设盲孔的底面与漏斗的圆柱形口部的端面之间。本装置可用于制备所述的薄膜标准品。 |
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