| 专利名称 | 一种色散型光谱成像仪谱线弯曲校正方法及装置 | 申请号 | CN201410648131.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104316183A | 公开（授权）日 | 2015.01.28 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电研究院 | 发明（设计）人 | 景娟娟;周锦松;张雪静;李雅灿;曾晓茹 | 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I;G01M11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种色散型光谱成像仪谱线弯曲校正方法及装置 至一种色散型光谱成像仪谱线弯曲校正方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开一种色散型光谱成像仪谱线弯曲校正方法及装置，其中校正方法包括计算第m列所有光谱通道中心波长与无偏离中心波长λj之间的欧氏距离，选择距离最小的位置点s及中心波长为λm，s，在相邻的光谱通道上选择与s相邻的位置点及中心波长；计算s对应的中心波长λm，s与无偏离中心波长λj之间的欧氏距离，以及相邻位置点对应的中心波长与无偏离中心波长λj之间的欧氏距离；根据上述距离计算结果计算s对应的中心波长λm，s的反距离权重值，以及相邻位置点对应的中心波长的反距离权重值；根据上述反距离权重值计算结果计算第m列对应无偏离中心波长λj的光谱辐射能量值。采用反距离权重法进行谱线弯曲校正，可以提高校正光谱的精度，算法简单，计算速度快。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障