| 专利名称 | 一种立式超小角X射线散射装置 | 申请号 | CN201420488344.7 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204116252U | 公开（授权）日 | 2015.01.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 李良彬;王震;陈晓伟 | 主分类号 | G01N23/201(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/201(2006.01)I | 专利有效期 | 一种立式超小角X射线散射装置 至一种立式超小角X射线散射装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型提供一种立式超小角X射线散射装置，该装置包括X射线光源部分、样品操作区、整体支撑结构、真空光路、探测器部分和驱动机构等六个部分。X射线光源产生低发散、高亮度的平行X射线光，经两个四刀口无散射狭缝准直光路，光斑被约束至规定形状尺寸。X射线透射样品后的散射光被探测器接收，并生成为二维数据图。整个系统可实现最大结构检测尺度410nm，同时真空光路长度自由可调，能实现不同尺度范围的结构检测。该装置特有的立式布局使得其非常适合研究要求入射光沿竖直方向的实验体系；同时样品操作区开放自由，可放置各种大小型实验仪器，因此该装置在原位结构检测方面具有常规水平X射线散射仪器无法比拟的优点。 |
1、源头对接，价格透明
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