| 专利名称 | 绝对式光栅尺绝对信号一致性校正方法 | 申请号 | CN201410617422.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104296661A | 公开（授权）日 | 2015.01.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 刘阳;许家林;乔栋;杨帆;吴宏圣;曾琪峰;孙强;尤佳 | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 绝对式光栅尺绝对信号一致性校正方法 至绝对式光栅尺绝对信号一致性校正方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 绝对式光栅尺绝对信号一致性校正方法，属于绝对式光栅尺测量领域，为克服光照强度不均匀、绝对编码刻线质量不高以及光电二极管阵列光电响应不均匀等导致最终输出的具有绝对位置的电信号不一致问题，该方法包括上位机通过存储器给绝对式光栅尺的光电二极管阵列的一致性校正结构的增益校正电路和偏置校正电路分别输入两组初始值；将n个光电二极管在m档光源偏置电流下经过一致性校正结构后输出的电压响应曲线进行直线性拟合；选取一条作为目标直线，并将剩余其他n-1条响应直线向该目标响应直线拟合；全部直线取平均值；全部直线向该平均值移动；输出电压的响应直线的离散度满足要求为止及进行线性范围扩展，直到离散度和线性范围满足要求为止。 |
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