| 专利名称 | 一种光束偏振度测量装置和方法 | 申请号 | CN201410503691.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104296875A | 公开（授权）日 | 2015.01.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 刘卫静;李斌诚;邢廷文;林妩媚 | 主分类号 | G01J4/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J4/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种光束偏振度测量装置和方法 至一种光束偏振度测量装置和方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种光束偏振度测量装置和方法，该测量装置由光学元件基片，转台和两个光束强度探测器组成，光学元件位于转台上，待测光入射至光学元件基片上，通过转台调节光束入射角，测量光学元件在不同入射角时的反射和透射光强度，根据菲涅耳公式推算得到入射光束的偏振度。本发明具有测量方法和装置简单，成本低，并且测量精度高，应用范围广等优点。 |
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