| 专利名称 | 磁共振弥散张量成像的参数误差估计方法和装置 | 申请号 | CN201410510744.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104282021A | 公开（授权）日 | 2015.01.14 | 申请（专利权）人 | 深圳先进技术研究院 | 发明（设计）人 | 梁栋;朱燕杰;彭玺;刘新;郑海荣 | 主分类号 | G06T7/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G06T7/00(2006.01)I;A61B5/055(2006.01)I | 专利有效期 | 磁共振弥散张量成像的参数误差估计方法和装置 至磁共振弥散张量成像的参数误差估计方法和装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种磁共振弥散张量成像的参数误差估计方法和装置，其中，所述方法包括：通过磁共振扫描，采集弥散加权图；根据弥散加权图分别估计弥散加权图中每个像素点的弥散张量；根据所述弥散张量分别计算各向异性系数和平均弥散系数；计算所述弥散加权图的误差图；根据所述弥散张量和所述弥散加权图的误差图计算弥散张量的误差；将弥散张量的误差、各向异性系数和平均弥散系数代入预先建立的参数误差计算模型中计算得出平均弥散系数误差和各向异性系数误差。上述方法和装置可以直观的表示出磁共振弥散成像参数图中的误差分布情况，从而便于对弥散张量成像的图像质量评估。 |
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