| 专利名称 | 一种岩石结构面表面基准面的确定方法 | 申请号 | CN201410532744.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104279956A | 公开（授权）日 | 2015.01.14 | 申请（专利权）人 | 中国科学院武汉岩土力学研究所 | 发明（设计）人 | 江权;宋磊博;龚彦华;杨成祥;崔洁 | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/00(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I | 专利有效期 | 一种岩石结构面表面基准面的确定方法 至一种岩石结构面表面基准面的确定方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种岩石结构面表面基准面的确定方法，属于岩土力学技术领域。本发明采用三维白光扫描仪扫描岩石结构面表面，获得岩石结构面表面的点云数据；然后用MATLAB软件读入岩石结构面表面的点云数据，根据中位基准面的确定原理，识别并确定岩石结构面表面的中位基准面；最后根据基准面方程，确定中位基准面的中心点O’、构造平移矩阵M、旋转矩阵R，进一步利用MATLAB软件得到在中位基准面基准下岩石结构面表面的点云数据。本发明可以识别并确定岩石结构面的中位基准面，得到在中位基准面基准下岩石结构面表面的点云数据，有效地解决了三维白光扫描获得的点云数据无法直接对岩石结构面表面进行定量描述的问题。 |
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