| 专利名称 | 一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列 | 申请号 | CN201420536276.7 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204086559U | 公开（授权）日 | 2015.01.07 | 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 阴泽杰;蒋春雨;曹靖;杨青巍 | 主分类号 | G01T1/36(2006.01)I | IPC主分类号 | G01T1/36(2006.01)I;G01T1/40(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列 至一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列 | 法律状态 | 说明书摘要 | 一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列，由不同长度的吸收体构成，所述不同长度的吸收体的设计原则为等能量间隔衰减原则，即当入射的X射线能量在被测能量范围内是均匀分布时，经过吸收体阵列衰减后，出射的X射线的能量衰减是等间隔的。本实用新型的优点是数据之间彼此离散，串扰减小，解谱精度提高。 |
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