| 专利名称 | 一种X射线脉冲探测器测试标定光源的装置 | 申请号 | CN201420444702.4 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204085533U | 公开（授权）日 | 2015.01.07 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 盛立志;刘永安;陈琛;周雁楠;赵宝升;代锦飞;李林森 | 主分类号 | G01C25/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C25/00(2006.01)I;G01T1/36(2006.01)I | 专利有效期 | 一种X射线脉冲探测器测试标定光源的装置 至一种X射线脉冲探测器测试标定光源的装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及一种X射线脉冲探测器测试标定光源的装置。包括包括X射线脉冲产生系统及标准探测器标定系统；上述X射线脉冲产生系统生成X射线脉冲经标准探测器标定系统测试标定光源。本实用新型提供了一种造价低廉、设备精巧、科学合理、参数量化、性能稳定的X射线脉冲探测器测试标定光源的装置。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障