| 专利名称 | 一种基于傅立叶变换红外光谱仪的磁光调制反射光谱装置 | 申请号 | CN201420310553.2 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204086133U | 公开（授权）日 | 2015.01.07 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 邵军;朱亮;陈熙仁 | 主分类号 | G01N21/3563(2014.01)I | IPC主分类号 | G01N21/3563(2014.01)I | 专利有效期 | 一种基于傅立叶变换红外光谱仪的磁光调制反射光谱装置 至一种基于傅立叶变换红外光谱仪的磁光调制反射光谱装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本专利公开了一种基于傅立叶变换红外光谱仪的磁光调制反射光谱装置。装置包括傅立叶调制与变换系统、低温光学磁场系统、调制光与探测光系统、光路耦合与检测系统。基于上述各系统间光路和电路联系，提出基于步进扫描傅立叶变换红外光谱仪的磁光-光调制反射光谱方法，实现低温、变磁场实验条件的磁光-光调制反射谱测量，克服漫反射泵浦光和样品光致发光的不良影响，提升微弱信号检测和处理能力，可有效实施低温强磁场条件下半导体微弱光调制特性的检测。 |
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