| 专利名称 | 一种用于原位探测激光加热反应器产物的光电离质谱装置 | 申请号 | CN201410488996.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104241074A | 公开（授权）日 | 2014.12.24 | 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 杨玖重;李玉阳;周忠岳;齐飞;潘洋 | 主分类号 | H01J49/04(2006.01)I | IPC主分类号 | H01J49/04(2006.01)I;H01J49/02(2006.01)I;H01J49/26(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于原位探测激光加热反应器产物的光电离质谱装置 至一种用于原位探测激光加热反应器产物的光电离质谱装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种激光加热反应器及产物原位探测的光电离质谱装置。装置由主腔体、激光器、测温仪、进样机构和质谱仪组成。将激光加热、原位超声分子束取样和真空紫外光电离质谱诊断等技术结合，提供了一种新型的适用压力范围从真空、大气压至高压的热化学反应实验研究技术。其中，利用功率可调的激光对反应基底进行均匀快速加热，缩短了样品反应时间，减少了二次反应；超声分子束取样技术可以“冷却”分子，使得不稳定的中间体得以生存；真空紫外光电离质谱利用真空紫外软电离技术，避免碎片的产生并实时检测反应产物。 |
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