| 专利名称 | 一种温控组件热性能测试系统 | 申请号 | CN201420484932.3 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204044094U | 公开（授权）日 | 2014.12.24 | 申请（专利权）人 | 中国科学院工程热物理研究所 | 发明（设计）人 | 桂小红;宋香娥;李铁;郑兴华;唐大伟 | 主分类号 | G01N25/20(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N25/20(2006.01)I | 专利有效期 | 一种温控组件热性能测试系统 至一种温控组件热性能测试系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及一种温控组件热性能测试系统，可以模拟温控组件在近似真空绝热环境下对其进行热性能的测试与研究，包括供电单元、真空室和温度采集与分析单元，所述真空室包括密封连接的真空室钟形罩和真空室底板，所述真空室的内腔中设置蓄热槽和电热元件，所述电热元件加热片和蓄热槽的底面紧密贴合，所述蓄热槽内放置温控组件,在所述温控组件中设置热电偶,所述电热元件通过设置在所述真空室底板上的航空插头与供电单元电连接，所述热电偶也通过所述航空插头与所述温度采集与分析单元连接。 |
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