| 专利名称 | 一种同步辐射X射线显微CT成像样品台 | 申请号 | CN201410513981.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开(公告)号 | CN104237237A | 公开(授权)日 | 2014.12.24 | 申请(专利权)人 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 发明(设计)人 | 彭冠云;肖体乔;谢红兰;邓彪;杜国浩;佟亚军;薛艳玲 | 主分类号 | G01N21/84(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/84(2006.01)I;G01N23/04(2006.01)I | 专利有效期 | 一种同步辐射X射线显微CT成像样品台 至一种同步辐射X射线显微CT成像样品台 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种同步辐射X射线显微CT成像样品台,包括安装在旋转台上的位移台,所述样品台还包括垂直于所述位移台的表面向外延伸的延长装置;所述延长装置包括固定于所述位移台的表面上的基座,用于承载样品的支架,以及连接在所述基座和所述支架之间的支撑棒。本发明的同步辐射X射线显微CT成像样品台,通过垂直于位移台的表面向外延伸的延长装置使得样品与CCD的距离更加灵活可调,满足对于CCD到样品近距离扫描的要求。 |
1、源头对接,价格透明
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