| 专利名称 | 检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法 | 申请号 | CN201410427325.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104215174A | 公开（授权）日 | 2014.12.17 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 张雪鹏;孙强;吴宏圣 | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法 至检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法，涉及光电测量领域，填补了检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法空白的问题。该方法包括以下步骤：主光栅与滑架定位后，在主光栅上与滑架的五个轴承对应的位置镀上铬层，铬层厚度满足导电即可；在铬层上引出导线，两个导线之间连接万用表；将导电的滑架放置在主光栅上，利用万用表测量铬层引出的导线之间是否导通，导通则说明导线之间对应的滑架的轴承与主光栅接触良好，不导通则说明对应的滑架的轴承与主光栅之间出现离位。本发明的检测方法操作简单，可靠性高，易于实现，成本低。 |
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