| 专利名称 | 一种光学系统波像差测量装置 | 申请号 | CN201420429293.0 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN204008073U | 公开（授权）日 | 2014.12.10 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电研究院 | 发明（设计）人 | 卢增雄;齐月静;苏佳妮;杨光华;周翊;王宇 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种光学系统波像差测量装置 至一种光学系统波像差测量装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种光学系统波像差测量装置，装置包括线偏振平面波发生源、1/2波片、偏振分光棱镜、1/4波片、反射装置以及夏克-哈特曼波前传感器，线偏振平面波发生源用于产生线偏振平面波；1/2波片用于将线偏振平面波转换后成为s偏振平面波；偏振分光棱镜用于将经1/2波片透射的s偏振平面波反射到1/4波片，并透射来自1/4波片透射的p偏振光；1/4波片用于将来自偏振分光棱镜的s偏振平面波转换成为圆偏振平面波，以及将由来自反射装置的圆偏振平面波转换成为p偏振平面波；反射装置用于使来自1/4波片的圆偏振平面沿原路返回；夏克-哈特曼波前传感器则用于测量入射到其上的p偏振光的波像差。本实用新型可以实现各种复杂光学系统波像差的高精度检测。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
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