一种测量放射性气体产生的β射线的探测系统及方法

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专利名称 一种测量放射性气体产生的β射线的探测系统及方法 申请号 CN201410455841.1 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN104199080A 公开(授权)日 2014.12.10 申请(专利权)人 中国科学院上海应用物理研究所 发明(设计)人 陈明明;蔡军;夏晓彬;黄文博;李建伟;张志龙 主分类号 G01T1/203(2006.01)I IPC主分类号 G01T1/203(2006.01)I 专利有效期 一种测量放射性气体产生的β射线的探测系统及方法 至一种测量放射性气体产生的β射线的探测系统及方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明提供一种测量放射性气体产生的β射线的探测系统,包括相连的探测装置和检测电路,该探测装置包括主探测器,还包括一包裹在主探测器外围的反符合探测器,其中,主探测器包括:一箱体;至少一个第一塑料闪烁体;设置在一第一塑料闪烁体与箱体的一内壁之间的第一玻璃光导;连接在一第一玻璃光导与检测电路之间的第一光电倍增管;反符合探测器包括:一中间镂空以容纳主探测器的第二塑料闪烁体;至少一个通过一第二玻璃光导连接至第二塑料闪烁体、并与检测电路相连的第二光电倍增管。本发明通过主探测器、反符合探测器相结合的方式,大大减小了γ射线对β射线测量结果的影响,在保证探测系统测量下限的前提下,使得探测系统具有较好的便携性。

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