| 专利名称 | 一种半导体开关器件导通压降的测量电路 | 申请号 | CN201410466345.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104181462A | 公开（授权）日 | 2014.12.03 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海高等研究院;上海联影医疗科技有限公司 | 发明（设计）人 | 刘慧芳;褚旭;罗颖鹏 | 主分类号 | G01R31/327(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/327(2006.01)I;G01R31/26(2014.01)I | 专利有效期 | 一种半导体开关器件导通压降的测量电路 至一种半导体开关器件导通压降的测量电路 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种半导体开关器件导通压降的测量电路，包括：提供输入电压的电压输入模块；并联于所述电压输入模块的逆变模块；对输入电压进行采样得到采样电压，并将所述采样电压及所述逆变模块的输出电压做减法运算得到所述逆变模块中半导体开关器件的导通压降的测试模块。本发明是一种实时在线测试方法，可以更加及时准确的反映结温和集电极电流的变化所带来导通压降的变化；同时，采用基于霍尔效应实现电气隔离，使得电路的安全性大大提高；此外，电路结构简单，通过测量直流母线电压和输出电压的差来计算半导体开关器件的导通电压，大大降低了待测信号的动态范围，从而提高了测量的精度。 |
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