| 专利名称 | FPGA单粒子效应动态故障测试装置及方法 | 申请号 | CN201410419050.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104181421A | 公开（授权）日 | 2014.12.03 | 申请（专利权）人 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 发明（设计）人 | 朱翔;封国强;韩建伟;姜昱光;上官士鹏;马英起;陈睿;余永涛 | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/00(2006.01)I;G01R31/3193(2006.01)I | 专利有效期 | FPGA单粒子效应动态故障测试装置及方法 至FPGA单粒子效应动态故障测试装置及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种FPGA单粒子效应动态故障测试装置，包括：控制电路模块(11)、上位机控制模块(12)、可控脉冲激光模块(15)以及三维移动模块(16)；其中，三维移动模块(16)在测试时用于安装待测试的被测FPGA器件(13)；上位机控制模块(12)与控制电路模块(11)连接，控制电路模块(11)连接到可控脉冲激光模块(15)，在测试时，控制电路模块(11)还分别连接到被测FPGA器件(13)以及与被测FPGA器件(13)所对应的对照FPGA器件(14)。 |
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